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ISP韓國 鍍層測厚儀iEDX-150T參考多項行業(yè)標準http://www.sense.cc/newsinfo/461186.html。完成氮化鋁陶瓷覆銅基板的檢測?？梢杂迷诙鄠€行業(yè)領域中的氮化鋁陶瓷覆銅基板項目。

    iEDX-150T鍍層測厚儀在氮化鋁陶瓷基板鍍層領域的應用案例。隨著國內(nèi)外LED行業(yè)向高效率、高密度、大功率等方向發(fā)展，開發(fā)性能優(yōu)越的散熱材料已成為解決LED散熱問題的當務之急。一般來說，LED發(fā)光效率和使用壽命會隨結溫的增加而下降，當結溫達到125℃以上時，LED甚至會出現(xiàn)失效。為使LED結溫保持在較低溫度下，必須采用高熱導率、低熱阻的散熱基板材料和合理的封裝工藝，以降低LED總體的封裝熱阻。

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射線管50KV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）

6個準直器及多個濾光片自動切換

 XYZ三維移動平臺，zei大荷載為5公斤

 高清CCD攝像頭（200萬像素），準確監(jiān)控位置

多變量非線性去卷積曲線擬合

高性能FP/MLSQ分析

儀器尺寸：618×525×490mm

平臺移動范圍：160×160×100mm

圖譜界面

軟件支持無標樣分析

寬大分析平臺和樣品腔

集成了鍍層界面和合金成分分析界面

采用多種光譜擬合分析處理技術

鍍層測厚分析精度可達到0.001μm

分析報告結果

直接打印分析報告
報告可轉換為PDF，EXCEL格式

樣品分析圖譜：

測試結果界面：

應用領域

iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域

技術指標

多鍍層分析，1～5層

測試精度：0.001 μm

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

測量時間：10~30秒

iEDX-150TISP韓國 鍍層測厚儀 可檢測氮化鋁陶瓷覆銅基板,iEDX-150T

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