/ /

ISPX射線熒光測厚iEDX-150WT可用于測定氮化鋁陶瓷覆銅基板，適用于氮化鋁陶瓷覆銅基板項目。并且參考多項行業(yè)標準http://www.sense.cc/newsinfo/461186.html。可應用于多個行業(yè)領域。

    iEDX-150T鍍層測厚儀在氮化鋁陶瓷基板鍍層領域的應用案例。隨著國內(nèi)外LED行業(yè)向高效率、高密度、大功率等方向發(fā)展，開發(fā)性能優(yōu)越的散熱材料已成為解決LED散熱問題的當務之急。一般來說，LED發(fā)光效率和使用壽命會隨結溫的增加而下降，當結溫達到125℃以上時，LED甚至會出現(xiàn)失效。為使LED結溫保持在較低溫度下，必須采用高熱導率、低熱阻的散熱基板材料和合理的封裝工藝，以降低LED總體的封裝熱阻。

應用領域:

iEDX-150WT鍍層測厚儀應用于PCB鍍層厚度測量分析、金屬電鍍鍍層分析、電鍍膜厚分析等鍍層領域

技術指標：

多鍍層，1～5層

測試精度：0.001 μm

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)

測量時間：10~30秒

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射線管50KV/1mA，鉬、鎢、銠靶

6個準直器及多個濾光片自動切換

XYZ三維移動平臺，zei大荷載為5公斤

高清CCD攝像頭，準確監(jiān)控位置

多變量非線性去卷積曲線擬合

高性能FP/MLSQ分析

儀器尺寸 620×612×525 mm

平臺移動范圍 110(X)x110(Y)x5mm

圖譜界面：

軟件支持無標樣分析

超大分析平臺

可自動連續(xù)多點分析

集成了鍍層分析界面和合金成分分析界面

采用多種光譜擬合分析處理技術

分析報告結果

直接打印分析報告
報告可轉換為PDF，EXCEL格式

樣品分析圖譜：

測試結果界面：

韓國 鍍層測厚儀iEDX-150WTISP 可檢測氮化鋁陶瓷覆銅基板,iEDX-150WT

韓國 鍍層測厚儀iEDX-150WTISP 可檢測氮化鋁陶瓷覆銅基板信息由深圳市善時儀器有限公司為您提供，如您想了解更多關于韓國 鍍層測厚儀iEDX-150WTISP 可檢測氮化鋁陶瓷覆銅基板報價、型號、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。