儀器簡介：
JEM-2100Plus廣泛應用于材料科學、納米技術和生命科學等領域。

JEM-2100Plus搭載 64位 Windows操作界面,操作更簡單。并與STEM,EDS,CCD和EELS實現(xiàn)了一體化控制。

JEM-2100Plus高度穩(wěn)定性的測角臺設計先進，非常適于包括3位重構在內(nèi)的樣品臺傾斜。選用日本電子專用軟件，可以輕松實現(xiàn)3D觀察。壓電陶瓷控制樣品臺也獨步天下。

TheJEM-2100Plus采用3級聚光鏡設計在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度電子束，大大提高了分析和衍射成像能力。



技術參數(shù)（UHR）：
1.點分辨率：0.19nm
2.線分辨率：0.14nm
3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV
4.傾斜角：25



主要特點：
1.五種極靴UHR、HR、HT、HC、CRYO
2.穩(wěn)定便捷的操作系統(tǒng)
3.最小束斑尺寸：0.5nm
4.良好的擴展性