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能譜探測器牛津儀器X射線能譜儀EDS 適用于Pollutant Particles信息二維碼

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Ultim Extreme
儀器描述/
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牛津儀器X射線能譜儀EDSUltim Extreme適用于Pollutant Particles項目,參考多項行業(yè)標準Oxford Instruments??梢詸z測Pollutant Particles等樣品??蓱糜陔娮?半導體行業(yè)領域。

監(jiān)測和過程控制

SEM中EDS分析高空間分辨率和低能端性能。將Extreme電子電路、無窗設計與幾何結(jié)構(gòu)和傳感器的優(yōu)化設計相結(jié)合,靈敏度比傳統(tǒng)大面積SDD高15倍。

  • 可對鋰元素進行檢測和成像

  • 加速電壓小于2kV時塊狀樣品中的空間分辨率低于10nm

  • 在低于1kV加速電壓下對材料進行表征

  • 與浸沒式電鏡相配合,可在高達30kV的加速電壓下收集高質(zhì)量的元素信息

Ultim Extreme 硅漂移探測器是高分辨率場發(fā)射掃描電鏡應用的一個突破,可提供遠遠超越傳統(tǒng)微米和納米分析的解決方案。

Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款無窗能譜,晶體面積100mm2,經(jīng)優(yōu)化設計來盡可能提高靈敏度和空間分辨率。它采用跑道型結(jié)構(gòu)設計,優(yōu)化高分辨率場發(fā)射掃描電鏡在低加速電壓和短工作距離下工作時的成像和EDS性能,使用Ultim Extreme,EDS的空間分辨率接近掃描電鏡的分辨率。

  • SEM-EDS聯(lián)用時的高空間分辨率

    • 場發(fā)射SEM中£10nm元素表征

  • 表面科學

    • SEM中表面表征

  • 低加速電壓下的材料鑒別

    • 低至1kV加速電壓下的材料表征

  • 快速準確的納米表征

    • 塊狀樣品快速采集、實時數(shù)據(jù)處理

  • 超輕元素敏感性

    • 元素探測能力的新高度,如Li、N、O

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能譜探測器牛津儀器X射線能譜儀EDS 適用于Pollutant Particles,Ultim Extreme

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能譜探測器牛津儀器X射線能譜儀EDS 適用于Pollutant Particles信息由牛津儀器科技(上海)有限公司為您提供,如您想了解更多關于能譜探測器牛津儀器X射線能譜儀EDS 適用于Pollutant Particles報價、型號、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。

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注:該產(chǎn)品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案,不可用于臨床診斷或治療等相關用途

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