/ /

牛津儀器能譜探測(cè)器Ultim Extreme可以用在地礦/有色金屬行業(yè)領(lǐng)域，用來(lái)檢測(cè)Metals，可完成Rapid Characterisation項(xiàng)目。符合多項(xiàng)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Oxford Instruments。

The groundbreaking Symmetry CMOS-based EBSD detector, together with the powerful AZtec? software, is capable of acquiring EBSD and EDS data at speeds in excess of 3000 indexed patterns per second (pps). These speeds, twice as fast as those achievable with conventional CCD-based detectors, are further enhanced by the fact that extreme pixel-binning of the diffraction patterns is not necessary.

Ultim Extreme 硅漂移探測(cè)器是高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡應(yīng)用的一個(gè)突破，可提供遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越傳統(tǒng)微米和納米分析的解決方案。

Ultim Extreme是Ultim Max系列中的一款無(wú)窗能譜，晶體面積100mm2，經(jīng)優(yōu)化設(shè)計(jì)來(lái)盡可能提高靈敏度和空間分辨率。它采用跑道型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，優(yōu)化高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在低加速電壓和短工作距離下工作時(shí)的成像和EDS性能，使用Ultim Extreme，EDS的空間分辨率接近掃描電鏡的分辨率。

• SEM-EDS聯(lián)用時(shí)的高空間分辨率
  

• 場(chǎng)發(fā)射SEM中￡10nm元素表征
  
  

• 表面科學(xué)
  

• SEM中表面表征
  
  

• 低加速電壓下的材料鑒別
  

• 低至1kV加速電壓下的材料表征
  
  

• 快速準(zhǔn)確的納米表征
  

• 塊狀樣品快速采集、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理

• 超輕元素敏感性
  

• 元素探測(cè)能力的新高度，如Li、N、O

SEM中EDS分析高空間分辨率和低能端性能。將Extreme電子電路、無(wú)窗設(shè)計(jì)與幾何結(jié)構(gòu)和傳感器的優(yōu)化設(shè)計(jì)相結(jié)合，靈敏度比傳統(tǒng)大面積SDD高15倍。

• 可對(duì)鋰元素進(jìn)行檢測(cè)和成像

• 加速電壓小于2kV時(shí)塊狀樣品中的空間分辨率低于10nm

• 在低于1kV加速電壓下對(duì)材料進(jìn)行表征

• 與浸沒(méi)式電鏡相配合，可在高達(dá)30kV的加速電壓下收集高質(zhì)量的元素信息

  /

  能譜探測(cè)器X射線能譜儀EDS牛津儀器 高溫合金和鋼鐵,Ultim Extreme

  /

  能譜探測(cè)器X射線能譜儀EDS牛津儀器 高溫合金和鋼鐵信息由牛津儀器科技（上海）有限公司為您提供，如您想了解更多關(guān)于能譜探測(cè)器X射線能譜儀EDS牛津儀器 高溫合金和鋼鐵報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來(lái)電或留言咨詢(xún)。

  /

注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門(mén)申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途