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| 極限值 | XP2U |
| zei大稱量值 | 2.1 g |
| 可讀性 | 0.0001 mg |
| 重復(fù)性(sd) - 加載處 | 0.00025 mg |
| - 低加載（加載處） | 0.0002 mg (0.2 g) |
| 線性誤差 | 0.001 mg |
| 靈敏度漂移 | 1.5 x 10-5 |
| 靈敏度溫度漂移 2) | 0.0001 %/°C |
| 靈敏度穩(wěn)定性 3) | 0.0001 %/a |
| 典型值 4) | |
| 典型重復(fù)性（sd） | 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr |
| 典型微分非線性（sd） | √8x(10-14) · g · R_nt |
| 典型靈敏度偏移（sd）2) | 3x(10-6)· R_nt |
| 典型zei小稱量值*（符合USP） | 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr |
| 典型zei小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) | 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr |
| 典型穩(wěn)定時間 | < 10 s |
1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) 第一次安裝，使用proFACT校準(zhǔn)，靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計(jì)不確定度 sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質(zhì)量） a=年
* 重復(fù)性和zei小稱量值可以通過以下措施得以改進(jìn)：- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。
梅特勒XP2U超微量天平,XP2U
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