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KSVNIMA常規(guī)交替型LB膜分析儀信息二維碼

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產(chǎn)品詳情

基本參數(shù)

品牌:

KSVNIMA

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≥1 PCS

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未填

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詳細(xì)說(shuō)明
交替型LB膜分析儀

1.產(chǎn)品簡(jiǎn)介KSVNIMA為瑞典百歐林科技有限公司旗下的子品牌之一,主要經(jīng)營(yíng)方向?yàn)閱畏肿訉颖∧さ臉?gòu)建與表征工具。LB(Langmuir-Blodgett)膜分析儀為KSVNIMA自主研發(fā)的一款單分子層膜的制備和表征設(shè)備,是LB膜的沉積領(lǐng)域應(yīng)用最廣泛的一款全球領(lǐng)先設(shè)備。LB膜分析儀配備了鍍膜井和鍍膜頭,在所需的堆積密度下,鍍膜頭可以用來(lái)將Langmuir膜轉(zhuǎn)移到固體基材上,鍍膜井可以在Langmuir膜下為固體樣品提供空間。Langmuir膜轉(zhuǎn)移到樣品上,密度,厚度及均勻性等性質(zhì)將會(huì)保留,從而實(shí)現(xiàn)了制備不同組成的多分子層結(jié)構(gòu)的可能。與其他有機(jī)薄膜沉積技術(shù)相比,LB沉積方法受功能性分子的分子結(jié)構(gòu)限制影響很小,這意味著LB技術(shù)是唯一能夠進(jìn)行自下向上的一種組裝方法。交替型LB膜分析儀為我公司LB膜分析儀系列中的一款特色產(chǎn)品。它可用于兩種材料的交替層鍍膜,包括兩個(gè)槽體,兩個(gè)表面壓力傳感器和兩對(duì)滑障。該槽有兩種尺寸,標(biāo)準(zhǔn)型和大型。2.工作原理位于氣-液或液-液界面處不可溶的功能性分子、納米顆粒、納米線或微粒所形成的單分子層可定義為Langmuir膜。這些分子能夠在界面處自由移動(dòng),具有較強(qiáng)的流動(dòng)性,易于控制其堆積密度,研究單分子層的行為。將材料沉積在淺池(稱頂槽)中的水亞相上,可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下,單分子層可以被壓縮。表面壓力即堆積密度可以通過(guò)Langmuir膜分析儀的壓力傳感器進(jìn)行控制。在進(jìn)行典型的等溫壓縮測(cè)試時(shí),單分子層先從二維的氣相(G)轉(zhuǎn)變到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在氣相中,分子間的相互作用力比較弱;當(dāng)表面積減小,分子間的堆積更為緊密,并開始發(fā)生相互作用;在固相時(shí),分子的堆積是有序的,導(dǎo)致表面壓迅速增大。當(dāng)表面壓達(dá)到最大值即塌縮點(diǎn)后,單分子層的堆積不再可控。圖1單分子層膜狀態(tài)受表面壓力增加的影響LB膜沉積過(guò)程是將樣品從單分子層中垂直拉出(圖2a),通過(guò)反復(fù)沉積技術(shù)可制備多層LB膜(圖2b),親水性及疏水性樣品均可在液相或氣相中沉積為單分子層。

圖2(a).LB沉積過(guò)程示意圖;(b).多層單分子膜的制備交替型LB膜分析儀的鍍膜過(guò)程如圖3所示。當(dāng)使用兩個(gè)單分子層壓縮沉積池和一個(gè)空白沉積池時(shí),可實(shí)現(xiàn)交替鍍膜,浸漬過(guò)程可在3個(gè)沉積池中選擇任意路徑多次循環(huán)(圖3a;在共同的亞相(淺藍(lán)色)上方,有兩種不同的單分子層(紫色和深藍(lán)色)(圖3b;上臂將樣品向下通過(guò)單分子膜,由下臂接住樣品。沉積循環(huán)也可從亞相開始,進(jìn)行第一層鍍膜(圖3c;下臂可根據(jù)需要旋轉(zhuǎn)到另一單分子層的沉積池或空白沉積池中,改變沉積池(圖3d;下臂提起樣品,傳遞給上臂(樣品從任意一側(cè)通過(guò)兩個(gè)單分子層中任意一個(gè)),進(jìn)行第二層鍍膜(圖3e)。

圖3(a).交替沉積池構(gòu)造示意;(b).樣品在在夾具上;(c).第一層鍍膜;(d).改變沉積池;(e).第二層鍍膜
3.技術(shù)參數(shù)3.1常規(guī)交替型LB膜分析儀(KN2006aseline">1.     槽體材質(zhì):固體燒結(jié),無(wú)孔PTFE材質(zhì),快速限位孔固定,可拆卸清洗或更換為多種其他功能性槽體,含雙側(cè)導(dǎo)流槽,內(nèi)置水浴系統(tǒng)接口

aseline">2.     框體特性:33mm槽體高度調(diào)節(jié),天平可XYZ三維定位調(diào)節(jié),含安全限位開關(guān),含攪拌、pH測(cè)量、樣品注射輔助系統(tǒng)等接口

3.     系統(tǒng)設(shè)計(jì):模塊化設(shè)計(jì),可獨(dú)立進(jìn)行表面壓測(cè)量和鍍膜實(shí)驗(yàn),可原位進(jìn)行表面紅外、表面電勢(shì)、布魯斯特角圖像、界面剪切等測(cè)試

aseline">4.     槽體表面積:587cm2(*2)

aseline">5.     槽體內(nèi)部尺寸:782x75x5mm(長(zhǎng)xx,*2

aseline">6.     滑障速度:0.1-200mm/min

aseline">7.     滑障速度精度:0.1 mm/min

aseline">8.     測(cè)量范圍:0-300mN/m(鉑金板);0-1000mN/m(鉑金棒)

aseline">9.     天平最大負(fù)荷:1g

10. 天平定位調(diào)節(jié)360°x110mmx45mmXYZ

aseline">11. 傳感精度:0.1μN/m

aseline">12. 表面壓測(cè)試元件:標(biāo)準(zhǔn)Wilhelmy白金板,W19.62xH10mm,符合EN14370:2004國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。其他選項(xiàng):Wilhelmy白金板(W10xH10mm)、液/Wilhelmy鉑金板(W19.62xH7mm)、Wilhelmy紙板、白金棒

aseline">13. Langmuir-Blodgett測(cè)試槽亞相容積:1400ml

aseline">14. 鍍膜井尺寸:半圓形,半徑75mm,深度74mm

aseline">15. 最大基材尺寸:3x30x50mm

aseline">16. 鍍膜速度:0.185mm/min

aseline">17. 電源:100...240VAC

18. 頻率:50...60Hz4.產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)及亮點(diǎn)
4.1產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)1.     專為極度精確測(cè)試設(shè)計(jì)的超敏感表面張力傳感器。鉑金屬板,鉑金屬棒及紙板都可用作探針以滿足不同的需求。

2.     開放性的設(shè)計(jì)便于槽體在框架上的放置及不同槽體的快速更換,同時(shí)便于清洗槽體表面。

3.     當(dāng)需要清潔或更換新槽體時(shí),槽體在框架上的拆卸/放置極其方便。

4.     Langmuir-Blodgett槽體是由便于清潔、可靠耐久的整塊純聚四氟乙烯構(gòu)成,其獨(dú)特的設(shè)計(jì)能夠防止槽體和鍍膜井發(fā)生泄漏,同時(shí)避免了使用膠水及其他封裝材料造成的潛在污染。

5.     滑障由親水性的迭爾林聚甲醛樹酯制成,可提高單分子層的穩(wěn)定性。可根據(jù)客戶需要提供疏水性的聚四氟乙烯壓縮滑障。穩(wěn)健的金屬構(gòu)架能夠防止滑障隨著時(shí)間的推移而變形。

6.     對(duì)稱滑障壓縮為標(biāo)準(zhǔn)的均勻壓縮方法,但任意儀器均可實(shí)現(xiàn)單一滑障壓縮。

7.     居中的鍍膜井有利于單分子層LB沉積的均一性。

8.     通過(guò)外部循環(huán)水浴對(duì)鋁制底板進(jìn)行加熱/冷卻,以控制亞相的溫度(水浴為分開銷售)。

9.     通過(guò)調(diào)整框架撐腳,可快速而準(zhǔn)確地校準(zhǔn)槽體水平。當(dāng)需要放置顯微鏡時(shí),框架撐腳也可很容易地從槽體上拆除。4.2產(chǎn)品亮點(diǎn)

4.2.1聯(lián)用或相關(guān)分析技術(shù)

本產(chǎn)品可與界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS),布魯斯特角顯微鏡(BAM),界面剪切流變儀(ISR),熒光顯微鏡,X射線等光學(xué)表征技術(shù)聯(lián)用或?qū)悠愤M(jìn)行后續(xù)分析。具體如:1.     紅外反射吸收光譜(KSVNIMAPM-IRRAS)

2.     石英晶體微天平(Q-SenseQCM-D)

3.     表面等離子共振儀

4.     電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x

5.     紫外可見吸收光譜儀

6.     原子力顯微鏡

7.     X射線反射器

8.     透射電子顯微鏡

9.     橢圓偏振儀

10. X射線光電子能譜儀等

4.2.2本公司可提供聯(lián)用儀器簡(jiǎn)介

1.     界面紅外反射吸收光譜儀(PM-IRRAS

帶極化模塊的界面紅外反射吸收光譜儀主要用來(lái)決定分子的取向和化學(xué)組成。2.     布魯斯特角顯微鏡(BAM可進(jìn)行薄膜的均一性、相行為和形貌的單分子層成像和光學(xué)觀測(cè)。3.     表面電位測(cè)量?jī)x(SPOT使用無(wú)損振蕩板式電容技術(shù)來(lái)監(jiān)測(cè)薄膜的電位變化,從而對(duì)單分子層的電學(xué)性質(zhì)進(jìn)行表征。提供堆積密度和取向等信息,可對(duì)任何Langmuir等溫測(cè)試進(jìn)行補(bǔ)充。4.     界面剪切流變儀(ISR這種獨(dú)特的剪切流變儀可以測(cè)量界面處的粘彈性。適用于氣-液或油-水的研究,在控制表面壓的同時(shí),可對(duì)粘彈性進(jìn)行分析。5.產(chǎn)品應(yīng)用5.1應(yīng)用范圍l 生物膜及生物分子間的相互作用

?  細(xì)胞膜模型(如:蛋白質(zhì)與離子的相互作用)

?  構(gòu)象變化及反應(yīng)

?  藥物傳輸及行為

l 有機(jī)及無(wú)機(jī)涂料

?  具有光學(xué)、電學(xué)及結(jié)構(gòu)特性的功能性材料

?  新型涂料:納米管、納米線、石墨烯等

l 表面反應(yīng)

?  聚合反應(yīng)

?  免疫反應(yīng)、酶-底物反應(yīng)

?  生物傳感器、表面固定催化劑

?  表面吸附和脫附

l 表面活性劑及膠體

?  配方科學(xué)

?  膠體穩(wěn)定性

?  乳化、分散、泡沫穩(wěn)定性

l 薄膜的流變性

?  擴(kuò)張流變

?  界面剪切流變(與KSVNIMAISR聯(lián)用)

5.2客戶發(fā)表成果(部分)

1.   Q.Guoetal.,J.Am.Chem.Soc.2003,125,630-631.(IF=11.444)

2.   Kumakietal.,Macromolecules1988,21,749-755.(IF=5.927)

3.   S.Sheikoetal.,NatureMaterials2013,12,735-740.(IF=36.4)

4.   Q.Zhengetal.,ACSNano2011, 5(7),6039–6051.(IF=12.033)

5.   AzinFahimietal.,CARBON2013,64,435–443.(IF=6.16)

6.   XiluanWangetal.,J.Am.Chem.Soc.2011,133,6338–6342.(IF=11.444)

7.   ZhiyuanZengetal.Adv.Mater.2012,24,4138–4142.(IF=15.409)


注:相關(guān)資料如有變化,恕不另行通知,瑞典百歐林科技有限公司對(duì)資料中可能出現(xiàn)的紕漏免責(zé),更多資料歡迎來(lái)電詢問(wèn)。


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